SJ 50033.142-1999 半导体光电子器件GF4112型绿色发光二极管详细规范
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0.47 |
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9 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5980 SJ 50033/142—1999,半导体光电子器件,GF4112型绿色发光二极管详细规范,Semiconductor optoelectronic devices,Detail specification for type GF4112 green emitting diode,1999-11 -10 发布1999-12-01 实施,中华人民共和国信息产业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电子器件,GF411 2型绿色发光二级管详细规范SJ 50033/142-1999,Semiconductor optoelectronic devices,Detail speciHcation for type GF4112 green emitting diode,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了 GF4112型绿色发光二极管的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于GF4112型绿色发光二极管(以下简称器件)的研制、生产和采购,1.3 分类,1.3.1 器件等级,按GJB 33A-97《半导体分立器件总规范》的规定,提供的质量保证等级为普军级,(JP)、特军级(JT)二级,2引用文件,GB 4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法,GB 7581-87半导体分立器件外形尺寸,GB 11499—89半导体分立器件文字符号,GB/T 15651-1995半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件,GJB 33A—97半导体分立器件总规范,GJB 128A-97半导体分立器件试验方法,SJ 2355-83半导体发光器件测试方法,3要求,3.1 详细要求,每个器件的要求应按照GJB 33A和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构应按照GJB 33A中3.5.2、3.5.3、3.5.4和3.5.6条及本规范的规定,外形尺寸符合本规范图1的规定,3.2.I 管芯材料,管芯材料为磷化镇(GaP)o,中华人民共和国信息产业部!999-11-10发布1999-12-0I 实施,-1 一,SJ 50033/142—1999,3. 2.2外形尺寸及引出端识别,外形尺寸见图1。长引线为正极,无色透明非空腔封装,3. 2.4引线长度,可按合同的规定（见6.2条）提供引线长度不同于本规范图1规定的器件,3.3 引线材料和引线镀涂,引线材料为铁基合金或铜基合金,引线镀银,也可按照合同规定（见6.2条）,3.4 最大额定值和主要光电特性（716=25。（：）,3. 4.1最大额定值,最大额定值见表1,表1,4m,mA,‘fpm",mA,%,V,“T a mb,℃,1T s tgD,℃,30 100 6 -55.100 -55.100,注:1）脉冲宽度为10 ms,占空比为“0.,3.4.2主要光电特性,主要光电特性见表2,-2 -,下载,SJ 50033/142—1999,表2,名称符号条件,数值,单位,最小最大,发光强度ん4= 20 mA 80 一med,正向电压yf 4= 20 mA 一2.5 V,峰值发射波长4 4= 20 mA 565 575 nm,光谱辐射带宽4=20 mA 一30 nm,反向电流Ir / = 6 V 10 jiA,半强度角4/z 4工 20 mA 10 — (°),3.5标志,根据器件的特点,省略GJB 33A中关于器件上标志的规定,其它按GJB 33A的规定,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33A和本规范的规定,4.1.1 表4Al分组进行检验和试验的样品可以用于A2、A3、A7分组的检验和试验,通,过A组检验的样品,可以作为B组和C组检验和试验抽样的母体,4.1.2 在做C组检验中的寿命试验时,制造厂可选择将B组340 h寿命试验继续做到1 000,h,以达到C组检验要求,4.1.3 表6cl分组进行检验的样品,如果光电特性符合A2、A7分组的要求则可以用于,C2分组的检验和试验,4.1.4 在做E组检验的温度循环试验时,制造厂可以选择已经过B组25次循环的全部,样品或部分样品再进行25次循环,以满足E组50次循环的要求,4.2筛选（仅对JT级）,筛选的步骤和条件应按GJB 33A和本规范表3的规定,表3筛选的步骤和条件,步骤检验和试验,GJB 128A,符号,数值,单位,方法号条件最小最大,1 内部目检,（封装前）,2074,2 高温寿命,非工作寿命,（稳定烘焙）,1032 3=100 ℃,/ = 24 h,3 温度循环,（空气一空气）,1051 25 ℃时不要求停顿,试验条件A,但髙温的,温度为!00 ℃,循环20,次,“在高、低温下的,时间）＞10 min,-3 -,SJ 50033/142—1999,续表3,步,检验和试验,GJB 128A,符号,数值,单位,骤方法号条件最小最大,4 恒定加速度,（不适用）,7 密封,（不适用）,9 中间测试,（不适用）,10 高温反偏（HTRB）,（不盅用）,11 PDA的中间测试,和（厶）变化量,（见筛选13）,正向电压,反向电流,发光强度,SJ 2355.2,SJ 2355.3,GB/T 15651,IV, 1.1,4=20 mA,k6 V,Zf=20 mA,测试条件3,匕,ん80,2.5,10,V,med,12 功率老炼,（正向偏置）,1038 试验条件B,4= 30 mA,/ = 96 h,13 终点测试,PDA中间测试的,光电参数和（厶）变,化量,正向电压变化量的,绝对值,发光强度变化量的,绝……
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